Hochleistungsröntgenfluoreszenzspektrometer Bowman zur Schichtdickenmessung und Materialanalyse, für gleichbleibende Fertigungs- und hohe Produktqualität.
Schichtdickenmessgerät Bowman
Schichtdickenanalyse basierend auf Röntgenfluoreszenz (RFA) bietet leicht zu bedienende, schnelle und zerstörungsfreie Analyse fast ohne Probenvorbereitung. Mit hoch auflösendem und leistungsstarken SDD ist das Bowman das ideale Instrument um dünnste Beschichtungen und Elementzusammensetzung im Spurenbereich, feste und flüssige Stoffe über einen weiten Elementbereich von AI bis zu U in der Periodentabelle zu analysieren.
Leistungsstarker SiPIN oder hochauflösender (SDD), optional auch 70mm² Silizium-Drift-Detektor, für die Analyse dünnster Beschichtungen bis in den Nanometerbereich und Spurenanalyse
Kapillaroptik optional
50 Watt Röntgenröhre aus deutscher Fertigung
Laserfokus
fester oder multivariabler Fokus
Weiter Elementbereich von AI bis U
Große, geschlitzte Probenkammer
Leistungsfähige Software
Erstellung von Kalibrierungen mit Fundamentalparametern (FP) oder empirisch für höchste Genauigkeit
Erstellung von Kalibrierungen mit Schritt-für-Schritt-Anleitung, um Bestandteile von Metallen, Polymere, Lösungen und Pulver zu messen
Intuitive Benutzeroberfläche
Übersichtliche Darstellung für die Tagesroutine
Erweiterte Funktionalität für Vielnutzer
Passwortschutz für alle Nutzerebenen
Keine Limitierungen für weitere Kalibrierungen
Alle Messungen werden automatisch gespeichert
Verschiedene Suchfunktionen (Los #, ANr #, etc.)
Anpassbarer 1-Click Berichtsgenerator
Datenexport als PDF, CSV, etc.
Standardmäßig komplette Software
Frei belegbare Funktionstasten für schnellen Applikationswechsel
Übersichtliche und farbige Ergebnisdarstellung
Download
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